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Applytest AT-30 便携式涂层测厚仪

产品描述: 具有两种传感器可选择:磁性传感器和涡流传感器。具有两种测量模式:高单次测量模式(Precision)和扫描模式(Scan)。具有温度补偿功能:的实时温度补偿技术可自动对环境温度及测头温度改变... ...

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TranSpec Lite 白光干涉膜厚仪

产品描述:光学方法,非接触、测量,。快速膜厚分析,几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )高的分析准确度,在整个厚度测量范围内偏差小于0.005微米可同时... ...

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TranSpec Mirco 白光干涉膜厚仪

新的光纤耦合TranSpec Micro薄膜厚度显微镜可以将薄膜厚度测量点的大小降到50-100um。测量点的图像可通过装在显微镜上的彩色相机实时查看。TranSpec Micro薄膜厚度测量仪和我们TranSpec和TranSpec Lite仪器一... ...

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美国博曼(Bowman)BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

美国博曼(Bowman)BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置,缩小测量点斑点,数倍... ...

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美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便,在合理的价格范围内显著... ...

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CM95手持式铜箔测厚仪

CM95 测量铜箔厚度1秒钟 ...

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CMI165手持式面铜测厚仪

CMI165带温度补偿功能的面铜测厚仪 ...

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X-Strata920XRF镀层测厚仪

X-Strata920 是一款结构紧凑、坚固耐用、质量控制的台式X射线荧光光谱仪,可以进行简单 快速的镀层厚度测量和材料分析。 X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合... ...

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X-Strata980XRF镀层测厚及痕量元素分析

X-Strata980 配备了功率X射线管和高灵敏度探测器,能够满足复杂样品和微小测试面积的检测需求。 X-Strata980 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业和贵金属分析行业... ...

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CMI730桌上型涂镀层测厚仪

CMI730能同时为磁性基材上的非磁性涂/镀层、导性基材上的非导性涂/镀层以及磁性基材上的电镀镍层提供高科技的涂镀层厚度检测。 ...

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CMI760桌上型铜厚测量仪

CMI760可用于测量表面铜和孔内镀铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来对表面铜和孔内镀铜厚度准确和的测量。 ...

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